X射线晶体分析仪的工作原理与核心应用

X射线晶体分析仪

（θ/2θ配置）

主要功能

用途：

照相方法：采用背射马克斯·冯·劳厄照相技术，将底片精准放置于晶体与射线源之间。入射光束通过底片上的小孔，记录后向衍射光束。通过分析衍射方向，可以精确测量未知晶体单位晶胞的形状与尺寸，从而确定晶体取向并评估其完整性。

定向分析：对晶体材料进行高精度测角定向，利用X射线通过前置单色器，衍射线被单色化后照射样品，当符合布拉格公式nλ=2dsinθ时产生衍射，被计数管接收并放大，通过仪表显示强度值，测角仪读取准确角度数据，实现快速定向与结构解析。

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标签： x射线晶体分析仪 射线晶体学 射线分析仪晶体结构